DAK開放(fang)式同軸介(jie)電測(ce)量系(xi)統基于精(jing)密的探(tan)頭設計用于覆蓋4 MHz -?67?GHz頻(pin)率范圍(wei)，具(ju)有三個開放的(de)同(tong)軸介(jie)(jie)電探(tan)頭。該(gai)系統采用先進的(de)算法和新穎的(de)硬件，可以在廣(guang)泛的(de)參數范圍(wei)內測(ce)(ce)量(liang)液體(ti)及半固體(ti)的(de)介(jie)(jie)電特性(xing)。該(gai)測(ce)(ce)量(liang)方法快速(su)且(qie)對(dui)被(bei)測(ce)(ce)材(cai)料無損。樣(yang)品(pin)體(ti)積應該(gai)足夠大，以確保樣(yang)品(pin)邊界處的(de)反射不會顯著影響測(ce)(ce)量(liang)結果(guo)。最小樣(yang)本量(liang)取決于頻(pin)率、探(tan)頭尺寸和介(jie)(jie)電參數。
準(zhun)確測(ce)量(liang)表征液體(ti)、半固體(ti)在在4MHz~67GHz寬頻率范圍內的相對介電常(chang)數（ε‘和(he)ε“）的實部和虛部。
提(ti)供高(gao)精(jing)度介(jie)電參數測(ce)量(介(jie)電常數、電導率(lv)、損耗角正切)
